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エージングチャンバー(老化試験装置)

半導体PCBの経年劣化試験用

GD -40℃~+150℃

冷却速度(無負荷)125℃→-40℃ 1℃/分(5~25℃にカスタマイズ可能)
加熱速度(無負荷)-40℃→+125℃ 1℃/分(5~25℃にカスタマイズ可能)
温度変動≤±1℃
エネルギーが消費される

チップエージング試験チャンバーは、過酷な環境下におけるチップの動作状態をシミュレートするために特別に設計された装置です。温度や湿度などの環境パラメータを正確に制御することで、チップが実際の使用時に遭遇する可能性のある高温、高湿度、高ストレスなどの過酷な条件をシミュレートし、チップのエージングプロセスを加速します。この方法により、初期不良チップを短期間で選別し、設計スキームの最適化、製品歩留まりの向上、そして長期使用におけるチップの安定性と信頼性の確保が可能になります。

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気候チャンバー/環境試験装置

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老化試験装置

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当社は自社工場を持ち、温度制御分野で20年以上の経験を持つ強力なチラーサプライヤーです。

冷凍冷蔵業界のリーダーとして、LNEYAは常に技術革新を重視しています。LNEYAは90件以上の発明特許を保有し、400名を超える従業員の20%が技術者です。生産プロセスでは、シーメンスPLM設計プラットフォームを採用し、設計、販売、生産、アフターサービス、廃棄に至るまで、製品ライフサイクル全体にわたるすべてのデータを一元管理することで、製品品質のトレーサビリティを最大限に高めています。

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