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電子部品のシミュレーション試験における冷却および加熱サーモスタットの応用

半導体部品産業の発展に伴い、様々な電子部品の様々な複雑な環境下での性能試験が顕著になってきた。高温低温試験機は、様々な環境における電子部品の性能をシミュレートし、試験するために特別に使用される装置の一種です。 装置。

高温低温試験機とは、高温・低温環境下での電子部品の性能を短時間でシミュレート・試験できる装置である。高低温試験機は主に温度制御システム、試験プラットフォームとデータ収集システムで構成されています。45℃~125℃の温度範囲を制御し、被試験部品の様々な性能指標をリアルタイムで監視・記録することができます。

半導体部品産業の発展に伴い、様々な電子部品の様々な複雑な環境下での性能試験が顕著になってきた。高温低温試験機は、様々な環境における電子部品の性能をシミュレートし、試験するために特別に使用される装置の一種です。 装置。

高温低温試験機とは、高温・低温環境下での電子部品の性能を短時間でシミュレート・試験できる装置である。高低温試験機は主に温度制御システム、試験プラットフォームとデータ収集システムで構成されています。45℃~125℃の温度範囲を制御し、被試験部品の様々な性能指標をリアルタイムで監視・記録することができます。

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